产品详情
SAKI 2D 光学外观自动检查机(AOI)
SAKI光学检测设备2D AOI ,采用其独自开发的线性扫描技术 ,利用其先进独创的线性摄像系统与完全同轴垂直落射照明相结合,通过简易的机构,实现了高速、高精度、高可靠性的检查,是在线光学检查设备中最佳的解决方案。
SAKI 2D AOI得益于线性扫描的设计理念,实现了紧凑的机身设计,无论是单轨还是双轨都以同样的装置寛度,实现了单位面积内最高生产率。卓越的线性扫描设计方式,使得装置在运行中没有任何振动,保证了设备的高精度性,也铸就了设备极低的故障率。
SAKI 独自开发的线扫描技术
SAKI 线扫描技术,是快速地进行全基板的扫描,是赛凯智能测试设备的基础技术。赛凯智能采用线性照相机的摄像方式,实现了快速的检查。
其他品牌 AOI 通过一般的测试设备所采用的分段拍摄方式,根据零部件数,基板尺寸改变检查工作,如果进行更细微的检查,则检查时间会大幅度增大。
SAKI 同轴照明无阴影检测完全同轴落射照明是赛凯智能的独自技术,是在基板全部位置上,对于检查部件从正上方照射同轴光的技术。完全同轴落射照明,不受相邻零部件大小和高低的影响,使得 SAKI 机器能够捕捉到焊端任意角度完全无阴影的影像。
SAKI 同轴照明无阴影检测完全同轴落射照明是赛凯智能的独自技术,是在基板全部位置上,对于检查部件从正上方照射同轴光的技术。完全同轴落射照明,不受相邻零部件大小和高低的影响,使得 SAKI 机器能够捕捉到焊端任意角度完全无阴影的影像。
SAKI 高速线性扫描 2D AOI
1)SAKI 通过高精度大口径远心透镜光学系统,结合丰富的算法和独创的完全同轴落射照明,不会漏掉任何检查对象。
2)SAKI 高解析度线性扫描 AOI,可用于任何高速生产线,实现炉前、炉后、综合检查的全自动光学检测机。
3)SAKI 以其丰富的软件支持系统,满足顾客的远程调试、一机多联、条码追索、MES接入,等各种需求,保护顾客的长远投资。技术规格
2)SAKI 高解析度线性扫描 AOI,可用于任何高速生产线,实现炉前、炉后、综合检查的全自动光学检测机。
3)SAKI 以其丰富的软件支持系统,满足顾客的远程调试、一机多联、条码追索、MES接入,等各种需求,保护顾客的长远投资。技术规格
机器型号 | BF-Planet-X Ⅱ | BF-Frontier Ⅱ | BF-Tristar Ⅱ | BF-10D | |
装置特性 | 单面扫描测试 M 基板,最小元件 01005 |
单面扫描测试 LL 基板,最小元件 0201 |
双面扫描同时测试 M 基板,最小元件 01005 |
双轨、单面扫描测试 M~L 基板,最小元件 01005 |
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分辨率 | 10 um | 18 um / 9 um | 10 um | 10 um | |
基板尺寸 | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 60 x 50 ~ 500 x 460 mm | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 单轨道 : 60 x 50 ~ 330 x 460 mm 双轨道 : 60 x 50 ~ 330 x 250 mm |
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基板翘曲 | ±2 mm | ±2 mm | ±1 mm | ±2 mm | |
零部件高度 | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 30 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | |
图像扫描时间 (最大尺寸基板) | 約5秒 | 約5秒 | 約5秒 | 約8.5秒 | |
主要的检查项目 | 零部件的有无,位置偏差,横侧站立, 纵站立,表里反转,极性反转,桥接, 异物粘着,没有焊锡,焊锡少,引脚漂浮, 芯片漂浮,圆角异常 |
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基板厚度 | 0.6 ~ 3.2 mm | ||||
照相机 | CCD 线性感应器照相机 | ||||
照明 | LED 同轴落射照明 | ||||
可以连接系 统的选项 |
BF-Editor | √ | |||
BF-RP1 | √ | ||||
BF-Monitor | √ | ||||
BF-WebTracerII | √ | ||||
2D 条形码识别功能 | √ | ||||
OK/NG信号输出 | √ | ||||
涂上防湿剂检查 | √ | ||||
设备外形尺寸 W x D x H | 600 x 915 x 1270 mm | 850 x 1340 x 1230 mm | 850 x 1295 x 1130 mm | 850 x 1360 x 1380 mm |