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半导体AOI检测设备，AOI芯片缺陷检测设备

所属分类： AOI光学检测仪 | 发布日期：2024-03-28 09:03:03

• 具备3D AI 深度学习及分析算法,可提取并检测多种类型的不良缺陷 • 针对不同的器件可配置检测选型 • 大理石高精度直线电机运动平台，稳定可靠的检测环境 • 具备SECS/GEM 通讯接口检测内容： 1、...

• 具备3D AI 深度学习及分析算法,可提取并检测多种类型的不良缺陷

• 针对不同的器件可配置检测选型

• 大理石高精度直线电机运动平台，稳定可靠的检测环境

• 具备SECS/GEM 通讯接口

检测内容：

1、可以检测出芯片表面的异物，脏污等；芯片破损，偏转，缺失，崩边，划痕，表面可见裂纹，升起，弹坑，堆叠，错片，贴反等

2、可以检测键合点缺失，键合点偏移，键合点形变量，键合点旁边的异物和沾污，键合点脱落，焊点尺寸等

3、检测出引线的缺失，检测出引线明显的断裂，检测出引线与引线的间距，短路，散线，飞线，线弧过低及过高等

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